Stage PFE : Optimisation des temps de scan (CND) de la collection AFCD
Expérience dans le secteur aéronautique chez Safran Nacelles pour mener un projet de fin d'études axé sur l'optimisation des processus de contrôle non destructif.
- Intégration des contraintes critiques de navigabilité et de Contrôle Non Destructif par ultrasons (UT-NDT) sur la machine TECNATOM d'inspection ultrasonique.
- Conduite d'un chantier d'amélioration continue par la méthode DMAIC dans le cadre d'une certification Lean Six Sigma Green Belt.
- Réduction du temps de cycle de 25% (de 24,5 h à 18 h), augmentant ainsi la disponibilité machine pour l'intégration de nouvelles collections (FAN, IB).
Environnement technique